為了提昇靜電放電 (Electrostatic Discharge, ESD) 防護技術暨可靠度 (Reliability) 技術領域的研發能力，台灣靜電放電防護工程學會（Taiwan ESD Association, T-ESDA）廣邀各界發表 ESD 和 Reliability 相關技術實例與研究心得，共同探討解決 ESD和 Reliability 問題的對策。每年在研討會上，我們除了可以看到國內各方先進發表相關技術的研究成果，所有與會人士也會在研討會期間進行密集的技術交流或尋得專業問題的解決方法。藉由此活動的舉辦，促進產學研探討解決電子產業所面臨的靜電放電問題及可靠度的問題。

論文截稿日期：2022年8月29日
論文接受通知：2022年9月30日前
線上報名日期：2022年10月30日前

舉辦日期：2022年11月2日~4日
舉辦地點：陽明交通大學 新竹光復校區 交映樓1樓國際會議廳
主辦單位：台灣靜電放電防護工程學會 (T-ESDA)、
　　　　　積體電路與電子系統之靜電放電防護技術產學聯盟 (ESD產學聯盟)
 

[得獎名單]

=== [TESDC-2022] Best Paper ===

 ●  P2P Resistance Contribution by Layer –
　　An Effective Way of Analyzing ESD Path Interconnect Robustness
　　Joe Huang, Judge Lin, Frank Feng, Blanche Wu, Hsin-Fei Weng, and Siao-Lung Hwong
　　Synopsys Inc. & Synopsys Taiwan Co., Ltd

 ●  退火處理技術於多級阻態雙層氮化鋁憶阻器之可靠度分析
　　符翊 ¹、黃竹均 ¹、曹世澄 ¹、王哲麒 ^{1,2,3,4
　　1}長庚大學電子工程學系 ²長庚大學綠色科技研究中心 ³林口長庚紀念醫院腦神經外科
　　⁴明志科技大學電子工程學系
 

=== [TESDC-2022] Best Student Paper ===

 ●  Impact of Humidity on Robustness of ESD Protection Circuit
　　曾裕程、林健群、林群祐
　　國立臺灣師範大學 電機工程學系

=== [TESDC-2022] Best Presentation ===

 ●  Investigation of CDM ESD Robustness Among Power-Rail ESD Clamping Circuits in
　　CMOS Integrated Circuits
　　Yi-Chun Huang and Ming-Dou Ker
　　Institute of Electronics, National Yang Ming Chiao Tung University, Hsinchu, Taiwan